Elma Pocket Surfix®X F - med integrerad prob för mätning av skikttjockleken, där underlaget utgörs av magnetisk metall Elma

Ej i lager

Jmf-pris:
  • Elma Pocket Surfix®X-F är en skikttjockleksmätare med integrerad prob för mätning på magnetisk metall
  • Snabb och noggrann mätning av tjockleken på ytbehandlingar
  • Kan användas på både magnetiska och icke-magnetiska metaller
  • Skikttjockleken spelar en viktig roll för hållbarheten mot slitage
  • Ultimat instrument för kontroll av ytbehandlingar på metalliskt underlag
  • Finns i tre standardmodeller: X-F, X-N, och X-FN
  • Mätspetsen är outslitlig och tillverkad av Wolfram Carbid
  • Integrerade statistiska funktioner för att hålla kontroll på mätningar
  • Intern minne och USB för överföring av mätningar till PC
  • Komplett paket med transportväska, testcertifikat, kalibreringsstandarder, batterier och manual